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A3-SR-100S系列反射式膜厚儀可用于測(cè)量半導(dǎo)體鍍膜，手機(jī)觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來(lái)一鍵式測(cè)量車(chē)燈罩表面硬化膜（包括過(guò)渡層）和背面的防霧層,精度達(dá)到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測(cè)量?jī)?nèi)飾件,外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達(dá)到0.02um

AvaSun-XL日曬校準(zhǔn)儀主要是對(duì)日曬氣候色牢度試驗(yàn)儀輻射強(qiáng)度進(jìn)行校準(zhǔn)測(cè)量，由于各日曬儀廠家內(nèi)部氙燈輻照度能量相比匹配太陽(yáng)的能量差異各不相同，對(duì)織物或染料耐光（耐氣候）色牢度評(píng)級(jí)帶來(lái)較大影響，因此對(duì)日曬儀內(nèi)部氙燈輻照度強(qiáng)度校準(zhǔn)測(cè)量變得非常有必要。

VMS-8S型透過(guò)率測(cè)試儀(分光光度儀)-1.0mm或0.5mm 專(zhuān)業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過(guò)率，PDA檢測(cè)器測(cè)速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用?，F(xiàn)貨供應(yīng)。

LVmicroZ是顯微分光系統(tǒng)，使用Lambda Vision制造分光專(zhuān)用顯微鏡，采用小孔直良手法測(cè)量彩色濾光片的微小面積的穿透率、反射率、辨色。分光器內(nèi)建光源，可以直接觀察量測(cè)點(diǎn)位置，也可以做反射光下的NIR顏料膜厚測(cè)量。

VMS-10S型透過(guò)率測(cè)試儀(分光光度儀)-0.3mm 2.5D玻璃面板透過(guò)率測(cè)試儀，專(zhuān)業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過(guò)率，PDA檢測(cè)器測(cè)速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。

VMS-1S型透過(guò)率測(cè)試儀(分光光度儀)-1.0mm 2.5D玻璃面板透過(guò)率測(cè)試儀，專(zhuān)業(yè)測(cè)試手機(jī)面板及平板電腦面板上的IR孔透過(guò)率，PDA檢測(cè)器測(cè)速快（1s）、體積小、高信噪比以及優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性使其方便快捷十分適合面板生產(chǎn)廠商的使用。目前該型號(hào)停產(chǎn)，替代型號(hào)VMS-8S型。

AvaSun-XL wifi 無(wú)線日曬校準(zhǔn)光譜儀是荷蘭Avantes公司專(zhuān)門(mén)針對(duì)日曬儀內(nèi)部的連續(xù)型或脈沖型氙燈進(jìn)行輻射校準(zhǔn)測(cè)量，測(cè)量方式按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)JJF（紡） 051-2012執(zhí)行,同時(shí)可以選擇多個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行輻射校準(zhǔn)測(cè)量，可以實(shí)現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性輻射光譜強(qiáng)度測(cè)量，采用了 非線性校準(zhǔn)技術(shù)，保證響應(yīng)一致性接近100%.

本閃點(diǎn)測(cè)試儀主要包括：圖像采集模塊 、自動(dòng)對(duì)焦模塊顯示照明模塊及軟件分析模塊， 可對(duì)屏幕或者光學(xué)膜的閃點(diǎn)性能進(jìn)行測(cè)量。設(shè)備采用傅里葉變換對(duì)圖像進(jìn)行頻率域內(nèi)濾波處理，并通過(guò)逆傅里葉變換分離出閃點(diǎn)信息。 應(yīng)用范圍： 掩模版：采用背光和掩模版測(cè)量； 顯示屏：采用顯示屏直接測(cè)量，應(yīng)用于防眩光膜、玻璃或者屏幕的閃點(diǎn)性能評(píng)估測(cè)試

專(zhuān)為玻璃行業(yè)推出透過(guò)率測(cè)試附件，水平或者垂直載物臺(tái)方便用戶(hù)操作測(cè)試，數(shù)秒即出全光譜數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品全檢。提供快速、可靠和緊湊的性能，3秒鐘即出全光譜數(shù)據(jù)，使其成為在最小空間內(nèi)進(jìn)行質(zhì)量控制和保證測(cè)量的理想選擇。 光電二極管整列（pda）檢測(cè)器技術(shù)允許幾乎同時(shí)快速獲取全波長(zhǎng)范 圍（從190 nm到110 nm）的光譜數(shù)據(jù)。

便攜，自帶電池可隨時(shí)隨地檢測(cè)；操做簡(jiǎn)便，按下測(cè)量鍵即可讀數(shù)；有三種測(cè)量孔徑可切換；無(wú)需熱機(jī)；配有調(diào)整功能，可與其他廠家的密度計(jì)進(jìn)行對(duì)比使用；人性化設(shè)計(jì)，小巧緊湊，按任意鍵開(kāi)機(jī)，自動(dòng)關(guān)機(jī)。